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GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语

  • 资料类别:国家标准
  • 更新时间:2013-01-30
  • 文件大小:1MB
  • 文件类型:PDF 格式
  • 打开方式:Adobe Reader
  • 下载次数:
  • 推荐标准: 显微术 微束分析
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资料介绍

标 准 编 号:GB/T 23414-2009
简体中文标题:微束分析 扫描电子显微术 术语
繁體中文標題:微束分析 掃描電子顯微術 術語
English name :Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary

标准简介:
本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包括已经在ISO23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM 实践的标准化文件。另外,本标准的某些术语定义,也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。

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