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GB/T 21636-2008 微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语

资料介绍

标 准 编 号:GB/T 21636-2008
简体中文标题:微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语
繁體中文標題:微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語
English Name:Microbeam analysis - Electron Probe Micro Analysis (EPMA) - Vocabulary

标准简介:
本标准定义了电子探针显微分析(EPMA)实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。
本标准适用于所有有关电子探针显微分析(EPMA)实践的标准化文件,部分适用于相关领域[例如:扫描电子显微镜(SEM),分析电子显微镜(AEM),X射线能谱仪等]的标准化文件,用于定义共用的术语。

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