您当前的位置:首页 > tag列表 >

表面化学分析标准

表面化学分析

共找到 6表面化学分析 标准

序号 资料名称 资料大小
1 GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 668 KB

标准编号:GB/T 30704-2014 
标准名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
英文名称:Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Guidelines for analysis

标准简介:
本标准适用于 X射线光电子能谱仪的操作者分析典型样品。本标准帮助操作者完成整个分析过程,包括样品处理,谱仪校准和设定以及宽扫描谱和窄扫描谱的采集,并给出了定量和准备最终报告的建议。

2 GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 600 KB

标准编号:GB/T 30702-2014 
标准名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
英文名称:xxxxxxx

3 GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 368 KB

标准编号:GB/T 30701-2014  
标准名称:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
英文名称:xxxxxxx

4 JIS K0169-2012 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法 158 KB
标 准 编 号:JIS K0169-2012
简体中文标题:表面化学分析.次级离子质谱法.多delta;层标准材料深度溶解参数的估算方法
繁體中文標題:表面化學分析.次級離子質譜法.多delta;層標準材料深度溶解參數的估算方法
English name :Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution paramete
5 GB/T 22571-2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 766 KB

标 准 编 号:GB/T 22571-2008
简体中文标题:表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
繁體中文標題:表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準
English Name:Surface chemical analysis minus; X-ray photoelectron spectrometers minus; Calibration of energy scales

标准简介:
本标准规定了一种用于一般分析目的时校准X射线光电子能谱仪结合能标尺的方法,该谱仪使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线

6 GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 109 KB

标 准 编 号:GB/T 22572-2008
简体中文标题:表面化学分析 二次离子质谱 用多delta;层参考物质评估深度分辨参数的方法
繁體中文標題:表面化學分析 二次離子質譜 用多delta;層參考物質評估深度分辨參數的方法
English Name:Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

标准简介:
本标准详细说明了在SIMS深度剖析中,用多delta;层参考物质评估前沿衰变长度、后沿衰变长度和高斯展宽三个深度分辨参数的步骤。
由于样品表面的物理和化学态受一次入射离子影响而不稳定,本标准不适用于近表面区域的delta;层。

表面化学分析国家标准不够全?没有找到您要的表面化学分析行业标准规范?