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砷化镓标准

砷化镓

共找到 10砷化镓 标准

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序号 资料名称 资料大小
1 GB/T 20228-2006 砷化镓单晶 196 KB

标准编号:GB/T 20228-2006  
标准名称:砷化镓单晶
英文名称:Gallium arsenide single crystal

标准介绍:
本标准规定了砷化镓单晶的产品分类,技术要求,试验方法,检验规则和标志,包装等。
本标准适用于各种方法生长的砷化镓单晶,产品主要用于光电器件,微波器件,集成电路,传感件和窗口材料等的制作。

2 GB/T 11094-2007 水平法砷化镓单晶及切割片 337 KB

标准编号:GB/T 11094-2007 
标准名称:水平法砷化镓单晶及切割片
英文名称:Horizontal bridgman grown gallium arsenide single crystal and cutting wafer

标准介绍:
本标准规定了水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片的要求、试验方法及检验规则等。

3 GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法 690 KB

标准编号:GB/T 11068-2006 
标准名称:砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
英文名称:Gallium arsenide epitaxial layer - determination of carrier concentration voltage-capacitance method

标准介绍:
本标准规定了砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法,适用于砷化镓外延层基体材料中载流子浓度的测量。

4 GB/T 8760-2006 砷化镓单晶位错密度的测量方法 244 KB


标准编号:GB/T 8760-2006 
标准名称:砷化镓单晶位错密度的测量方法
英文名称:Gallium arsenide single crystal-determination of dislocation density

标准介绍:
本标准适用于位错密度为0--100000个/CM 的砷化镓单晶的位错密度的测量。检验面为[111]面和[100]面。
 

5 GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 533 KB

标准编号:GB/T 8758-2006 
标准名称:砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
英文名称:Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference

标准介绍:
本标准适用于砷化镓外延层厚度的测量,测量厚度大于2μm。要求衬底材料的电阻率小于0.02Ω·cm,外延层的电阻率大于0.1Ω·cm。
 

6 GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 285 KB

标准编号:GB/T 8757-2006 
标准名称:砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法   
英文名称:Determination of carrier concentration in galliumarsenide by the plasma resonance minimum

标准介绍:
本标准适用于掺杂砷化镓单晶中载流子浓度的测量。

7 SJ 20844-2002 决绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法 475 KB

标准编号:SJ 20844-2002 
标准名称:决绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
英文名称:Test method for microzone homogeneity of semi-insulating monocrystal gallium arsenide

标准介绍:
本标准规定了半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性的测试。

8 SJ 20843-2002 砷化镓单晶AB微缺陷密度定量检验方法 211 KB

标准编号:SJ 20843-2002 
标准名称:砷化镓单晶AB微缺陷密度定量检验方法
英文名称:Quantitative determination of AB microscopic defect density in gallium arsenide single crystal

标准介绍:
本标准规定了砷化镓单晶中AB微缺陷密度的定量检验方法。

9 SJ 20842-2002 砷化镓表面砷镓比的测试方法 176 KB

标准编号:SJ 20842-2002 
标准名称:砷化镓表面砷镓比的测试方法
英文名称:Test method for Ga/As ratio of surface of gallium arsenide

标准介绍:
本标准规定了砷化镓材料表面镓砷比的X射线光电子能谱的试验方法。本标准适用于监测砷化镓器件制造过程中各种表面处理对砷化镓晶片表面镓砷比的影响,也适用于晶片加工中的各种表面处理。
 

10 GB/T 25075-2010 太阳能电池用砷化镓单晶 198 KB

标准编号:GB/T 25075-2010
简体名称:太阳能电池用砷化镓单晶
繁体名称:太陽能電池用砷化鎵單晶
英文名称:Gallium arsenide single crystal for solar cell

标准简介:
本标准规定了太阳能电池用砷化镓单晶棒的分类、技术要求、检验方法和规则以及标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于制造砷化镓太阳能电池的砷化镓单晶滚圆棒。

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